X2072型阴极发光EDS能谱仪

2019-07-12

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  • 适用于大多数样品,包括薄片、粉末、碎片、透明与非透明样品,无需对样品进行喷碳或喷金处理  

  • 可通过不同大小的光孔对矿物或试样进行微区分析(小至50~100μm)

  • 可通过对束斑大小的调节,得到矿物未知成分的平均值 

  • 电子束激发X射线荧光强度高,强度要大于X射线激发源的激发强度约4-5个数量级,测试时间短 

  • 电子束入射样品深度很浅(仅仅为1-2μm左右),实现表面分析。

  • 除激发的特征X射线被探测以外,没有其他的噪声信号被探测,分析结果准确 

  • 探测器可探测的元素范围为11(Na)~92(U) 

  • 对Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn等主量元素的分析结果谱线重复性好。

  • 全自动分析内建诊断功能,操作简便。